ロゴ九州工業大学次世代パワーエレクトロニクス研究センター

発表文献

                                                                                                                                                   
タイトル 著者 学術誌・学会名 発表年度
Formulation of Single Event Burnout Failure Rate for High Voltage Devices in Satellite Electrical Power System Yuji Shiba, Erdenebaatar Dashdondog, Masaki Sudo, Ichiro Omura Proc. of ISPSD2017 2017
New Power Module Integrating Output Current Measurement Function S.Tabata, K.Hasegawa, M.Tsukuda, I.Omura Proc. of ISPSD2017 2017
Current Distribution Based Power Module Screening by New Normal/Abnormal Classification Method with Image Processing Masanori Tsukuda, Daisuke Yuki, Hiroki Tomonaga, Hyoungseop Kim, Ichiro Omura Proc. of ISPSD2017 2017
An Evaluation Circuit for DC-Link Capacitors used in a Single-Phase PWM Inverter Kazunori Hasegawa, Ichiro Omura, Shin-ichi Nishizawa, PCIM Europe2017 2017
パワーモジュール近未来 大村一郎 Calsonic Kansei technical review
CKテクニカルレビュー
2017
"Smart Power Devices and ICs Using GaAs and Wide and Extreme Bandgap Semiconductors" T. Paul Chow, Ichiro Omura, Masataka Higashiwaki, Hiroshi Kawarada, and Vipindas Pala, IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES 2017
"A New Output Current Measurement Method with Tiny PCB Sensors Capable of Being Embedded in an IGBT Module," K. Hasegawa, S. Takahara, S. Tabata, M. Tsukuda, and I. Omura IEEE Trans. Power Electron 2017
"Temperature rise measurement for power-loss comparison of an aluminum electrolytic capacitor between sinusoidal and square-wave current injections" K. Hasegawa,K. Kozuma, K. Tsuzaki, I. Omura, S. Nishizawa, Microelectronics Reliability 2016
"Micro PCB Rogowski coil for current monitoring and protection of high voltage power modules" Masanori Tsukuda, Masahiro Koga, Kenta Nakashima, Ichiro Omura Microelectronics Reliability 2016
"Failure rate calculation method for high power devices in space applications at low earth orbit" Erdenebaatar Dashdondog, Shohei Harada, Yuji Shiba, Ichiro Omura Microelectronics Reliability 2016
"Design and Analysis of a New Evaluation Circuit for Capacitors Used in a High-Power Three-Phase Inverter" K. Hasegawa, I. Omura, S. Nishizawa IEEE Transactions on Industrial Electronics 2016
"High-performance vertical Si PiN diode by hole remaining mechanism" Masanori Tsukuda , Akiyoshi Baba, Yuji Shiba, Ichiro Omur Solid-State Electronics 2016
"Mutual Inductance Measurement for Power Device Package Using Time Domain Reflectometry" Kazunori Hasegawa, Keiji Wada, Ichiro Omura ECCE 2016 2016
「平行デュアルレーザビーム法による自由キャリアの寿命評価:不純物酸素析出による寿命劣化の検出」 金田寛, 大村一郎 第77回応用物理学会秋季学術講演会 2016
「平行デュアルレーザビーム法による自由キャリアのバルク寿命評価:Fe故意汚染による寿命劣化の検出」 金田寛, 大村一郎 第77回応用物理学会秋季学術講演会 2016
「窒化ガリウム(GaN)FETを使用したワイヤレス給電用E級送信機」 市原文夫, 大村一郎 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 2016
「平行デュアルレーザビーム法によるシリコンウェーハのバルクキャリア寿命評価技術」 金田寛, 大村一郎 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 2016
「平行デュアルレーザビーム法による自由キャリアのバルク寿命評価:酸化膜形成による表面パッシベーション効果の評価」 金田寛, 米澤英晃, 大村一郎 第64回応用物理学会春季学術講演会 2016
「2026年への想像力」 大村一郎 三菱電機技報 2016年5月号 巻頭言 2016
“IGBT Avalanche Current Filamentaion Ratio: Precise Simulations on Mesh and Structure Effect” Yuji Shiba, Masanori Tsukuda and Ichiro Omura Proc. of ISPSD2016 2016
“Novel 600 V Low Reverse Recovery Loss Vertical PiN Diode with Hole Pockets by Bosch Deep Trench” Masanori Tsukuda, Akiyoshi Baba, Yuji Shiba, Ichiro Omura Proc. of ISPSD2016 2016
“16-channel micro magnetic flux sensor array for IGBT current distribution measurement” H. Tomonaga, M. Tsukuda, S. Okoda, R. Noda, K. Tashiro, I. Omura, Microelectronics Reliability 55 2015
“High-throughput and full automatic DBC-module screening tester for high power IGBT” M. Tsukuda, H. Tomonaga, S. Okoda, R. Noda, K. Tashiro, I. Omura Microelectronics Reliability 55 2015
“Failure analysis of power devices based on real-time monitoring” A. Watanabe, M. Tsukuda and I. Omura Microelectronics Reliability 55 2015
“New Measurement Base De-embedded CPU Load Model for Power Delivery Network Design” Motochika Okano, Koji Watanabe, Masamichi Naitoh, and Ichiro Omura The 9th International Conference on Power Electronics – ECCE Asia (ICPE 2015-ECCE Asia) 2015
“60 GHz Wireless Signal Transmitting Gate Driver for IGBT” Kenichi Yamamoto, Fumio Ichihara, Kazunori Hasegawa, Masanori Tsukuda, and Ichiro Omura Proc. of ISPSD2015 2015
“Application-specific micro Rogowski coil for power modules -Design tool, novel coil pattern and demonstration-” M. Koga, M. Tsukuda, K. Nakashima, I. Omura International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS 2016) 2015
“Optimal double sided gate control of IGBT for lower turn-off loss and surge voltage suppression” S. Harada, M. Tsukuda, I. Omura International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS 2016) 2015
“Magnetic flux signal simulation with 16-channel sensor array to specify accurate IGBT current distribution” M. Tsukuda, K. Matsuo, H. tomonaga, S. Okoda, R. Noda, K. Tashiro and I. Omura International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS 2016) 2015
“A New Evaluation Circuit with a Low-Voltage Inverter Intended for Capacitors Used in a High-Power Three-Phase Inverter” K. Hasegawa, I. Omura, and S. Nishizawa Applied Power Electronics Conference & Exposition (APEC2016) 2015
「三相インバータ用直流リンクコンデンサに適した評価回路」 長谷川一徳、大村一郎、西澤伸一 電気学会産業応用部門大会 2015
「IGBTダブルゲート構造の提案とアクティブ・ホール注入制御:数値解析による低損失化の原理確認」 原田翔平、大村一郎、附田正則 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 2015
「IGBTモジュール用超小型電流センサの開発:高精度センサ構造の提案と専用設計環境の構築」 古賀仁大、大村一郎、附田正則 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 2015
「磁束センサアレイを用いたパワーモジュール内電流の可視化システムの開発」 朝長大貴、大村一郎、附田正則、大胡田清一、野田龍三、田代勝治 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 2015
「パワーモジュール用PCB超小型電流センサ:専用設計ツールの開発とセンサ試作実証」 古賀仁大、中島健太、大村一郎、附田正則 電気学会半導体電力変換/モータドライブ合同研究会 2015
「三相インバータ用直流リンクコンデンサに適した評価回路の実験検証」 長谷川一徳、大村一郎、西澤伸一 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換合同研究会 2015
「パワーモジュール内蔵型出力電流計測手法の新提案」 高原賢、長谷川一徳、附田正則、大村一郎 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換技術合同研究会 2015
「パワーモジュールのインテリジェント化;出力電流検出機能の開発」 田畑勝次、高原賢、 長谷川一徳、大村一郎 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換技術合同研究会 2015
「高耐圧パワー半導体モジュール用超小型PCB電流センサの開発:ノイズ低減構造の提案と実証」 中島健太、古賀仁大、大村一郎、附田正則 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換技術合同研究会 2015
「リアルタイム内部温度分布可視化システムの構築」 長尾亮輔、渡邉晃彦、大村一郎 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換技術合同研究会 2015
「OCVD法によるキャリアライフタイム測定の精度解析」
「OCVD法での接合容量の効果:電流成分を含んだモデル式の構築」
真辺航、原田翔平、大村一郎 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換技術合同研究会 2015
「近傍空間磁界可視化システムの実現」 松本拓朗、鈴木秀斗、市原文夫、大村一郎 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換技術合同研究会 2015
「近傍空間磁界可視化システムの計測精度の検証」 鈴木秀斗、松本拓朗、岩崎量旺、古賀仁大、大村一郎 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換技術合同研究会 2015
「平行デュアルレーザビーム法による自由キャリアのバルク寿命評価:赤外レーザビーム屈折の理論」 金田寛、大村一郎 第63回応用物理学会春季学術講演会 2015
「平行デュアルレーザビーム法による自由キャリアのバルク寿命評価:装置構成と平行デュアルビームの実現」 金田寛、大村一郎 第63回応用物理学会春季学術講演会 2015
“Short-circuit protection for an IGBT with detecting the gate voltage and gate charge” K. Hasegawa, K. Yamamoto, H. Yoshida, K. Hamada, M. Tsukuda, I. Omura Microelectronics Reliability 54 2014
“Structure oriented compact model for advanced trench IGBTs without fitting parameters for extreme condition: part II” J. Takaishi, S. Harada, M. Tsukuda, I. Omura Microelectronics Reliability 54 2014
“Ultrafast lateral 600 V silicon SOI PiN diode with geometric traps for preventing waveform oscillation” Masanori Tsukuda, Hironori Imaki, Ichiro Omura Solid State Electronics 104 (2015) 2014
“Rea-time failure monitoring system for high power IGBT under acceleration test up to 500A stress” Akihiko Watanabe, Masanori Tsukuda and Ichiro Omura Proc. of ISPSD2014 2014
“Ultra-fast Lateral 600 V Silicon PiN Diode Superior to SiC-SBD” Masanori Tsukuda, Hironori Imaki and Ichiro Omura Proc. of ISPSD2014 2014
“Design for EMI suppression” during reverse recovery by 600V lateral SOI PiN diode with traps” Masanori Tsukuda, Hironori Imaki and Ichiro Omura The 2014 International Conference Solid State Devices and Materials 2014
“High Speed Real-time Temperature Monitoring System inside Power Devices Package Using Infrared Radiation” N. Hirata, A. Watanabe and I. Omura The 2014 International Conference Solid State Devices and Materials 2014
「SOI超高速横型シリコンダイオード」 今城寛紀、附田正則、大村一郎 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 2014
「IGBTモジュール高信頼化に向けたチップ間電流不均衡計測技術の開発」 山口治之、附田正則、渡邉晃彦、大村一郎 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 2014
「60GHz無線モジュールを用いたワイヤレス・ゲートドライブ回路」 山本研一、市原文夫、長谷川一徳、大村一郎 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 2014
“IGBT chip current imaging system by scanning local magnetic field” Hiroaki Shiratsuchi, Kohei Matsushita, Ichiro Omura Microelectronics Reliability 53 2013
“Real time degradation monitoring system for high power IGBT module under power cycling test” A. Watanabe, M. Tsukuda and I. Omura Microelectronics Reliability 53 2013
“High Speed Turn-on Gate Driving for 4.5kV IEGT without Increase in PiN Diode Recovery Current” Yamato Miki, Makoto Mukunoki, Takashi Matsuyoshi, Masanori Tsukuda, and Ichiro Omura  Proc. of ISPSD2013 2013
“Sub-micron Junction Termination for 1200V Class Devices toward CMOS Process Compatibility” Kota Seto, Hironori Imaki, Junpei Takaishi, Masahiro Tanaka, Masanori Tsukuda and Ichiro Omura  Proc. of ISPSD2013 2013
“Real Time Monitoring System for Internal Process to Failure of High Power IGBT” Akihiko Watanabe, Masanori Tsukuda and Ichiro Omura The 2013 International Conference on Solid State Devices and Materials 2013
“High-throughput DBC-assembled IGBT screening for power module” Masanori Tsukuda, Seiichi Okoda, Ryuzo Noda, Katsuji Tashiro and Ichiro Omura International Conference on Integrated Power Electronics System 2013
“Internal degradation monitoring of power devices during power cycling test” Akihiko Watanabe, Masahiro Tsukuda and Ichiro Omura International Conference on Integrated Power Electronics System 2013
「マイクロフィルムセンサを用いた電流集中現象の画像化」 松下、幸平、白土、博章、大村一郎 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 2013
「リアルタイムモニタリング機能を持ったゲート駆動システムの構築」 濱田航太、吉田秀太郎、大村一郎 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 2013
「IGBTのゲート電化・ゲート電圧検出を用いた負荷短絡保護」 吉田秀太郎、濱田航太、長谷川一徳 大村一郎 電気学会半導体電力変換/モータドライブ合同研究 2013
“Real-time failure imaging system under power stress for power semiconductors using Scanning Acoustics Tomography(SAT)” Akihiko Watanabe, Ichiro Omura Microelectronics Reliability 52 2012
“IGBT Scaling Principle Toward CMOS Compatible Wafer Processes” Masahiro Tanaka, Ichiro Omura Solid-State Electronics 2012
“Role of Simulation Technology for the Progress in Power Devices and Their Applications” Hiromichi Ohashi, Ichiro Omura IEEE TRANSACTION ON ELECTRON DEVICES 2012
“Universal Trench Edge Termination Design” Kota Seto, Ryu Kamibaba, Masanori Tsukuda and Ichiro Omura Proc. of ISPSD2012 2012
“Scaling Rule for Very Shallow Trench IGBT toward CMOS Process Compatibility” Masahiro Tanaka and Ichiro Omura Proc. of ISPSD2012 2012
“Scattering Parameter Approach to Power MOSFET Design for EMI” Masanori Tsukuda, Keiichiro Kawakami and Ichiro Omura Proc. of ISPSD2012 2012
“Bonding Wire Current Measurement with Tiny Film Current Sensors” Hidetoshi Hirai, Yuya Kasho, Masanori Tsukuda and Ichiro Omura Proc. of ISPSD2012 2012
“Real-time Failure Imaging of Power Semiconductors under Power Stress using Scanning Acoustics Tomography” Akihiko Watanabe, Ichiro Omura The 2012 International Conference on Solid State Devices and Materials 2012
「高耐圧パワーデバイス用スケールダウン・テストヘッドの開発」 松吉峻、附田正則、平井秀敏、大村一郎 電子情報通信学会、IEICE Technical Report 2012
“Structure oriented compact model for advanced trench IGBTs without fitting parameters for extreme condition Part I” M. Tanaka, and I. Omura Microelectronics Reliability 51 2011
“Tiny-scale “stealth” current sensor to probe power semiconductor device failure” Yuya Kasho, Hidetoshi Hirai, Masanori Tsukuda, Ichiro Omura Microelectronics Reliability 51 2011
“Ultra Low Loss Trench Gate PCI-PiN Diode with VF<350mV” Motohiro Tsuda, Yasuaki Matsumoto, Ichiro Omura Proc. of ISPSD2011 2011
“Full digital short circuit protection for advanced IGBTs” Takuya Tanimura, Kazufumi Yuasa, Ichiro Omura Proc. of ISPSD2011 2011
「PiNダイオードの逆回復時高周波振動の検討」 川神圭一朗、附田正則、高濱健一、大村一郎 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 2011
「フルデジタル回路によるIGBTの高速短絡保護」 谷村拓哉、湯浅一史、大村一郎 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 2011
「InAs赤外線センサを用いたパワー半導体チップ用高速温度測定技術についての検討」 藤本宏海、中道聡、大村一郎 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 2011
“Numerical study on very high speed silicon PiN diode possibility for power ICs in comparison with SiC-SBD” Kenichi Takahama and Ichiro Omura Proc. of ISPSD2010 2010
“Challenge to the Barrier of Conduction Loss in PiN Diode toward VF<300 mV with Pulsed Carrier Injection Concept” Yasuaki Matumoto, Kenichi Takahama, and Ichiro Omura Proc. of ISPSD2010 2010
“Design of Trench Termination for High Voltage Power Device Ryu Kamibaba Kenichi Takahama and Ichiro Omura” Proc. of ISPSD2010 2010
“Ultra High Speed Short Circuit Protection for IGBT with Gate Charge Sensing” Kazufumi Yuasa, Soh Nakamichi and Ichiro Omura Proc. of ISPSD2010 2010
「InAs赤外線センサを用いたパワー半導体チップ用高速温度測定技術についての検討」 中道聡、藤本宏海、大村 一郎 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 2010
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