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Doctor Thesis
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タイトル | 著者 | 学術誌・学会名 | 発表年 |
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Single PCB sensor-based output current reproduction for three-phase inverter systems | B. Bayarkhuu, B. Bat-Ochir, B. Dugarjav, I. Omura | Power Electronic Devices and Components | 2023 |
Dead-time Evaluation with Switching frequency for GaN-based Non-inverting Buck-Boost DC-DC Converter using FPGA-based High-frequency Control | Ravi Nath Tripathi | IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics | 2024 |
Unbalanced Half-bridge Split Capacitor Power Decoupling with Multi-Order Frequency Control for 800V On-board Battery Charger | Tuyen D. Nguyen, Long H. B. Nguyen, Dong Tran, Ravi Nath Tripathi, Senior Member, IEEE, Hai N. Tran, Member, IEEE | IEEE Transactions on Transportation Electrification | 2023 |
Paralleling of IGBT Power Semiconductor Devices and Reliability Issues | Tripathi, Ravi Nath and Ichiro Omura | MDPI Electronics 2023 | 2023 |
Current-Sensor-Less Condition Monitoring of a DC-Link Capacitor in a PWM Inverter with a Six-Pulse Diode Rectifier | K. Hasegawa, T. Kubo, and Y. Hirose | IEEJ Journal of Industry Applications | 2023 |
Analysis and Measurement of the Surge and Gate-Noise Voltages in a 1.7-kV IGBT Module with the Effect of Reverse-Recovery Current | K. Hasegawa and K. Takagi | IEEE Transactions on Power Electronics | 2023 |
Online Cell Capacitance and ESR Monitoring Using Switching Frequency in a Modular Multilevel Converter | T. Yasuda, K. Hasegawa, and J. Itoh | IEEJ Journal of Industry Applications | 2023 |
Development of a heterogeneous integration of GaN power device on Si-LSI | S. Miyasaka, Y. Norihide, A. Furue, S. Shinkai and S. Matsumoto | 2023 IEEE 73rd Electronic Components and Technology Conference (ECTC) | 2023 |
Experimental and numerical study for mechanical stress effects of SOI-powernMOSFETs under parasitic bipolar region | Masaaki Koganemaru, Tomoki Shiota, Koki Shiotsuka, Satoshi Matsumoto, Toru Ikeda | 19th International Microsystems, Packaging, Assembly and Circuits Technology Conference | 2023 |
Current-Sensor-Less Condition Monitoring of a DC-Link Capacitor in a PWM Inverter With a Six-Pulse Diode Rectifier Having AC and DC inductors | K. Hasegawa and Y. Hirose | IEEE Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE) | 2023 |
Condition Monitoring of a DC-Link Capacitor in a Motor-Drive Inverter under Imbalanced Supply Voltage | T. Yamasoto and K. Hasegawa | Symposium on Semiconductor Power Conversion (S2PC) | 2023 |
GaNパワーデバイスとSi-LSIをヘテロジニアスインテグレーションするためのプロセス | 乘秀勇佑、宮坂晋永、松本聡、新海聡子 | 第38回エレクトロニクス実装学会春季講演大会 | 2023 |
系統連系インバータ用LCLフィルタキャパシタのモニタリング実験検証 | 丸山祐矢, 長谷川一徳 | 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換合同研究会 | 2023 |
モジュラーマルチレベル変換器におけるキャパシタの劣化に基づくキャパシタ電流制御 | 安田匠, 伊東淳一, 長谷川一徳 | 電気学会全国大会 | 2023 |
PWMインバータの出力電流を用いたパワー半導体オン電圧のセンサレスモニタリングの基礎検討 | 藤内蓮, 長谷川一徳 | 電気学会全国大会 | 2023 |
インバータ出力電圧と電流を利用したDCリンクキャパシタコンディションモニタリング | 山外拓真, 長谷川一徳 | 電気学会全国大会 | 2023 |
Leafonyを用いたDCリンクキャパシタのリプル電圧測定とFFT解析 | 小川優作, 山外拓真, 長谷川一徳 | 電気学会全国大会 | 2023 |
V2X双方向EV充電器を用いたインバータDCリンクキャパシタの状態診断技術 | 長野友幸(株式会社GSユアサ), 長谷川一徳(九州工業大学), 時井敦志(株式会社GSユアサ) | 電気学会全国大会 | 2023 |
IGBTのN-base電位を考慮した追加パルスによるインバータのサージ電圧解析 | 境真一, 長谷川一徳 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2023 |
電源電圧不平衡時のインバータDCリンクキャパシタのコンディションモニタリング | 山外拓真, 長谷川一徳 | 電気学会半導体電力変換/モータドライブ 合同研究会 | 2023 |
高調波電流重畳時における250Vアルミ電解コンデンサのカロリー法を用いた損失測定 | 久場大夢, 長谷川一徳 | 電気学会産業応用部門大会 | 2023 |
IGBTモジュールのチョッパ回路定電流動作時におけるVCE (sat)測定による熱抵抗増加観測 | 植田永輝, 長谷川一徳, 宍戸信之, 中野智,齋藤渉 | 電気学会産業応用部門大会 | 2023 |
Relationships between the Power Semiconductor Device Property, Recombination Lifetime, Carbon Related Defects, and Carbon Concentration of Silicon Wafer | Shun Sasaki, Noritomo Mitsugi, Shuichi Samata, Ichiro Omura | JSAP Kyushu Chapter Annual Meeting 2023/The 8th Asian Applied Physics Conference (Asian-APC) | 2023 |
New equations to calculate carrier recombination lifetime of silicon epitaxial layer, based on open circuit voltage decay method | Shun Sasaki, Noritomo Mitsugi, Shuichi Samata, Wataru Manabe, Srikanth Gollapudi, Masanori Tsukuda and Ichiro Omura | Japanese Journal of Applied Physics | 2023 |
SiC MOSFETのソフトターンオフ短絡保護方法の提案 | 杜 赫, Bayarsaikhan Yandagkhuu, 大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2023 |
並列IGBTデバイスの電流均一化のためのゲート遅延制御とミラープラトー効果 | トリパシ ラビ ナス, 大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2023 |
過渡的なゲート閾値計測によるジャンクション温度モニタリング方法 | Bayarsaikhan Yandagkhuu, 大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2023 |
Short-circuit protection scheme with efficient soft turn-off for power modules | He Du, Yandagkhuu Bayarsaikhan, Ichiro Omura | Microelectronics Reliability | 2023 |
An Experimental Study on Switching Waveform Design with Gate Charge Control for Power MOSFETs | Hirotaka Oomori, Ichiro Omura | Power Electronic Devices and Components | 2023 |
Space radiation induced failure rate calculation method using energy deposition probability function for high-voltage semiconductor device | Luvsanbat Khurelbaatar, Turtogtokh Tumenjargall, Begzsuren Tumendemberel, Otgonbaatar Myagmar, Srikanth Gollapudi, Ichiro Omura, Erdenebaatar Dashdondog | Materials Today Communications | 2023 |
Investigation of the Parasitic Inductance Influence on the Short-Circuit Behaviour of High Voltage IGBTs | He Du, Ichiro Omura, Shuhei Matsumoto and Takuro Arai | 2023 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition | 2023 |
持続可能な未来とパワーエレクトロニクス | 大村一郎 | 電子情報通信学会電子通信エネルギー技術研究会(EE) | 2022 |
次世代スイッチング電源の設計方法としてのVirtual Prototypingの提案とこれを用いたスイッチング電源の小型化の検討 | 古江 文乃, 宮坂 晋永, 大串 悠介, 山西 理樹, 松本 聡, 長谷川 雅考 | 電子情報通信学会電子通信エネルギー技術研究会(EE) | 2022 |
Single PCB current sensor for feedback control in the switch mode power converters | Bayarkhuu Battuvshin・Omura Ichiro | 電子情報通信学会電子通信エネルギー技術研究会(EE) | 2022 |
Online junction temperature measurement of Power MOSFET by dynamic VGS-ID monitoring system | Yandagkhuu Bayarsaikhan・Ichiro Omura | 電子情報通信学会電子通信エネルギー技術研究会(EE) | 2022 |
ゲートドライバーICの1チップ化・高機能化に向けての検討 | 大串悠介, 松本 聡 | 電子情報通信学会電子通信エネルギー技術研究会(EE)/電子部品・材料研究会(CPM)/機エレクトロニクス研究会(OME) | 2022 |
Impact of the multi-layer graphene for 3D power supply on chip | A. Furue, S. Matsumoto and M. Hasegawa | the 15th International Conference on New Diamond and Nano Carbons (NDNC2022) | 2022 |
3次元power supply on chipの研究 | 宮坂皆永,松本 聡, 雨宮嘉照 | 和4年度生体医歯工学共同研究拠点報告会 | 2022 |
Voltage Compensation Performance of the Voltage Unbalance Compensator Using the Method of Symmetrical Components | Tomoya Katsuki, Iori Yamakawa, Akihiro Imakiire and Satoshi Matsumoto | IEEE/IEEJ International Power Electronics Conference (IPEC) | 2022 |
Condition Monitoring of a DC-Link Capacitor Used in a PWM Inverter With a Six-Pulse Diode Rectifier Without Current Sensors | K. Hasegawa, T. Kubo, and Y. Hirose, | IEEE/IEEJ International Power Electronics Conference (IPEC) | 2022 |
Design Consideration of 3D Power SoC Using Virtual Prototyping | Ayano Furue, Sinei Miyasaka, Yusuke Ogushi, Riki Yamanishi, and Satoshi Matsumoto | 2022 International Conference on Electronics Packaging (ICEP) | 2022 |
2次元材料を3次元パワーICに導入するためのシミュレーションによる検討 | 古江 文乃,松本 聡,長谷川 雅考 | マイクロエレクトロニクスシンポジウム (エレクトロニクス実装学会) | 2022 |
n型を起点としたプロセスで作製したダイヤモンドpinダイオードの特性評価 | 後藤成雅、渡邉晃彦 | 第36回ダイヤモンドシンポジウム講演予稿集 | 2022 |
ダイヤモンドpip構造のスナップバック現象 | 松本有吾、後藤成雅、渡邉晃彦 | 第36回ダイヤモンドシンポジウム講演予稿集 | 2022 |
A Robust Testing Method for DC and AC Capacitors with Minimum Required Power Supply | Bo Yao, Qian Wang, Haoran Wang, Kazunori Hasegawa, and Huai Wang | IEEE Transactions on Power Electronics | 2022 |
Leafonyを用いたチョッパ回路連続動作時におけるIGBTのVCE(sat)の測定 | 原 幹太, 長谷川 一徳, 宍戸 信之, 齋藤 渉, 二宮 保 | 電気学会産業応用部門大会 | 2022 |
追加センサを必要としないMMCのセルキャパシタの静電容量とESRのオンライン推定法 | 安田 匠, 長谷川 一徳, 伊東 淳一 | 電気学会産業応用部門大会 | 2022 |
PFC回路における導電性固体高分子コンデンサとアルミ電解コンデンサを並列接続した場合のリップル電流分担の解析 | 花田 渉, 長谷川 一徳 | 電気学会産業応用部門大会 | 2022 |
交流リアクトルを有するインバータシステムのDCリンクキャパシタモニタリングの実験検証 | 廣瀬 優斗, 長谷川 一徳 | 電気学会 電子デバイス/半導体電力変換 合同研究会 | 2022 |
複数巻線を用いたMRM用高磁束発生回路 | 花田哲郎, 和田圭二, 高宮真, 赤津観, 大村一郎 | 電気学会 電子デバイス/半導体電力変換 合同研究会 | 2022 |
チョッパ回路連続動作時におけるIGBTのVCE(sat)と温度プロファイルの測定 | 原 幹太, 長谷川 一徳, 宍戸 信之, 齋藤 渉, 二宮 保 | 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換合同研究会 | 2022 |
キャパシタモニタリングにおける電源電圧不平衡時のダイオード整流器出力リプル電圧の解析 | 山外 拓真, 長谷川 一徳 | 電気学会全国大会 | 2022 |
Power Electronics for a Future Sustainable Society | Ichiro Omura | PCIM Europe | 2022 |
Hybrid GaN-SiC Power Switches for Optimum Switching, Conduction and Free-Wheeling Performance | Battuvshin Bayarkhuu, Ravi Nath Tripathi, Ichiro Omura, Alberto Castellazzi | The 34th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) | 2022 |
Dynamic Vgs-Id monitoring system for junction temperature estimation for MOS gate power semiconductors | Yandagkhuu Bayarsaikhan, Ichiro Omura | The 34th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) | 2022 |
Speed-Up Gate Pulse Method to Suppress Switching Loss and Surge Voltage for MOS Gate Power Devices | Hiroya Egashira, Hirotaka Oomori, Ichiro Omura | The 34th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) | 2022 |
Thermal grease pump-out visualizing system for power modules using 3D digital image correlation method | Issei Manzen and Ichiro Omura | CIPS 2022 - 12th International Conference on Integrated Power Electronics Systems | 2022 |
Feedback Controlled IPM Inverter with Single PCB Rogowski Coil Sensor | Battuvshin Bayarkhuu, Bat-Otgon Bat-Ochir and Ichiro Omura | CIPS 2022 - 12th International Conference on Integrated Power Electronics Systems | 2022 |
Self-turn-on-free criteria for MOS gate power device and circuit | Takanao Nishio and Ichiro Omura | CIPS 2022 - 12th International Conference on Integrated Power Electronics Systems | 2022 |
Direct / indirect impinging air jet cooling for power devices and application to power electronics system | Shunichiro Nakata, Ichiro Omura | CIPS 2022 - 12th International Conference on Integrated Power Electronics Systems | 2022 |
Study of parasitic oscillations in trench IGBT during short-circuit type II based on signal flow graph model | Hiroshi Kono and Ichiro Omura | CIPS 2022 - 12th International Conference on Integrated Power Electronics Systems | 2022 |
PINダイオードの逆回復電流を考慮したIGBTゲートノイズ電圧の実験検証 | 高木 海・長谷川 一徳 | 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換合同研究会 | 2022 |
SOI - パワーMOSFET における寄生バイポーラ効果と機械的応力効果の実験的評価 | 塩塚航生, 小金丸正明, 松本聡, 池田聡 | エレクトロニクス実装学会誌 | 2022 |
電源システムの安定性解析について | 安部征哉 | 電子情報通信学会 信学技報 | 2022 |
トランスレスフローティングゲートドライバーICの1チップ化に向けてのシミュレーションによる検討 | 大串悠介, 松本聡 | 電子情報通信学会 信学技報 | 2022 |
パワーサイクル試験のDUT温度係数依存性 | 秋元健志, 大村一郎 | 電子情報通信学会 信学技報 | 2022 |
Fully integrated transformer less floating gate driver for 3D power supply on chip | Y. Ogushi and S. Matsumoto | 2021 IEEE International 3D Systems Integration Conference (3DIC) | 2021 |
Numerical predictions of 3D power-supply on chip taking into considerations of proximity effect | S. Miyasaka and S. Matumoto | 2021 IEEE International 3D Systems Integration Conference (3DIC) | 2021 |
Numerical investigations for 3D power supply on chip by coupling of thermal-fluid, circuit, and electromagnetic field simulations | A. Furue and S. Matsumoto | 2021 IEEE International 3D Systems Integration Conference (3DIC) | 2021 |
Development of the h-BN manufacturing process for3D-LSI | M. Yokoi, S. Shinkai and S. Matsumoto | 2021 IEEE CPMT Symposium Japan (ICSJ) | 2021 |
Comparison of the instability in device characteristics for thin-film SOI power n- and p-MOSFETs at high temperature under AC stress | Riki Yamanishi, Satoshi Matsumoto | Microelectronics Reliability | 2021 |
A testing method for evaluating shoot-through immunity of IGBTs in an inverter | K. Hasegawa, S. Abe, M. Tsukuda, I. Omura, T. Ninomiya | Microelectronics Reliability | 2021 |
Numerical investigations of the multi-layer graphene as a thermal interface material and an elector-magnetic field shield layer for 3D power supply on chip applications | Ayano Furue, Satoshi Matsumoto and Masataka Hasegawa | Integrated Power Conversion and Power Management 2021 | 2021 |
Determination of Abnormality of IGBT Images Using VGG16 | T. Ogawa, H. Lu, A. Watanabe, I. Omura and T. Kamiya | Proc. of the 21th International Conference on Control, Automation and Systems (ICCAS 2021) | 2021 |
高温における薄層SOIパワーnチャネル及びpチャネルMOSFETのACストレスによる素子特性変動の比較 | 山西理樹, 松本聡 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2021 |
3次元パワーSoCにおける近接効果の影響 | 宮坂晋永, 松本聡 | 信学技報 | 2021 |
系統連系インバータ用 LCL フィルタのセンサレスモニタリングの基礎検討 | 福永颯馬, 長谷川一徳 | 電気学会産業応用部門大会 | 2021 |
PIN ダイオードの逆回復電流を考慮した IGBT ゲートノイズ電圧の理論解析 | 高木 海, 長谷川一徳 | 電気学会産業応用部門大会 | 2021 |
交流リアクトルを有するインバータシステムの DC リンクキャパシタモニタリングの理論検討 | 廣瀬優斗, 長谷川一徳 | 電気学会産業応用部門大会 | 2021 |
Multipurpose Strategy for Energy Storage System Based on Capital Asset Pricing Model With Ensemble Approach | Kazufumi Yuasa, Miki Ueshima, Tadatoshi Babasaki, Ichiro Omura | IEEE Access | 2021 |
Improved DICM with an IR camera for Imaging of Strain and Temperature in Cross Section of TO packages | Yoshiki Masuda, Akihiko Watanabe, Ichiro Omura | The 33rd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) | 2021 |
DUT Temperature Coefficient and Power Cycles to Failure | Yuma Kawauchi, Kenji Akimoto, Akihiko Watanabe and Ichiro Omura | The 33rd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) | 2021 |
Benchmarking of Digital Gate Driven IGBTs: New Eoff-Vsurge Trade-off Approach | Kouji Harasaki, Masanori Tsukuda and Ichiro Omura | The 33rd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) | 2021 |
Altitude dependent failure rate calculation for high power semiconductor devices in aviation electronics | Srikanth Gollapudi, Ichiro Omura | Japanese Journal of Applied Physics, | 2021 |
Mechanism Clarification of Switching Loss and Surge Voltage / Current Reduction with Active Gate Drive for System Reliability Improvement | Seiya Abe, Yusuke Tokita, Masanori Tsukuda, Ichiro Omura | Journal of the Institute of Industrial Applications Engineers | 2020 |
Torque Performance of the 750 W Induction Motor with a Voltage Unbalance Compensator Utilized Independent DC Voltage Source | T. Katsuki, A. Imakiire, and S. Matsumoto | ICEMS2020 | 2020 |
Comparisons of instability in device characteristics at high temperature for thin-film SOI power n- and p-channel MOSFETs | M. Kaneda, K. Ariyoshi, S. Matsumoto | IEEE Region 10 Conference (TENCON) | 2020 |
Design Consideration of Self-Oscillating Voltage Booster Including JFET Characteristics for Energy Harvesting Applications | Kosuke Onishi, Masahiro Matsuo, Seiya Abe | IEEE Region 10 Conference (TENCON) | 2020 |
SOI-MOSデバイスにおける機械的応力効果の実験的評価 | 塩塚航生, 潮田智基, 小金丸正明, 松本聡, 池田徹, 宮崎則幸 | 第30回マイクロエレクトロニクスシンポジウム | 2020 |
薄層SOIパワーpMOSFETとnMOSFETのACホットキャリア効果の比較 | 有吉和麻, 松本聡, 渡邉晃彦 | 電気学会 電子デバイス・半導体電力変換合同研究会 | 2020 |
ダイオード整流器・PWMインバータシステムにおける直流リンクコンデンサの電流センサレスモニタリング | 久保 司, 長谷川 一徳 | 電気学会 電子デバイス・半導体電力変換合同研究会 | 2020 |
DDSを用いた10MHz級デジタル制御DC-DCコンバータの研究 | 梶原健志, 安部征哉, 今給黎明大, 松本聡 | 電子情報通信学会 信学技報 | 2020 |
0.5μmCMOS/SOIを用いた高周波ゲートドライバーのシミュレーションによる検討 | 大谷圭佑, 中山未菜美, 有吉和麻, 松本聡 | 電子情報通信学会 信学技報 | 2020 |
DCリンクコンデンサバンク内並列素子の損失増加の解析 | 西府耕平, 長谷川一徳 | 電気学会全国大会 | 2020 |
Study of parasitic oscillation of a multi-chip SiC MOSFET circuit based on a signal flow graph model by TCAD simulation | Hiroshi Kono, Ichiro Omura | Solid-State Electronics | 2020 |
MOSゲート型パワー半導体におけるセルフターンオン現象の解析とモデル化 | 西尾 貴植, 大村 一郎 | 電子情報通信学会/ 電子通信エネルギー技術研究会(EE) | 2020 |
デジタルゲートドライブ方式を用いたIGBTのスイッチング特性最適化技術の研究 | 原崎宏治, 附田正則, 大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2020 |
650V定格FP-MOSFET実現に向けた理論検討 | 星原宏紀, 伊東篤史, 大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2020 |
パワーデバイス電流集中測定技術 | 西尾成植, 松浦成哉, 附田正則, 大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2020 |
赤外線カメラを使用したパワー半導体の歪みと温度の同時モニタリング | 増田貴樹, 渡邉晃彦, 大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2020 |
パワーサイクル試験の高精度化に向けた研究 | 川内勇真, 秋元健志, 渡邉晃彦, 大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2020 |
Cosmic Ray Failure Rate Calculation for Power Semiconductor Device for Aircraft applications | Srikanth Gollapudi, Ichiro Omura | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2020 |
13kV UHV-IGBTの理論検討 | 伊東篤史, 大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2020 |
Effect of cell size reduction on the threshold voltage of UMOSFET | Yoshiro Baba, Ichiro Omura | Microelectronics Reliability Vol. 114 | 2020 |
Altitude Dependent Failure Rate Calculation for High Power Semiconductor Devices in Aviation Electronics | Srikanth Gollapudi, Ichiro Omura | 2020 International Conference on Solid State Devices Materials | 2020 |
V-I Curve Based Condition Monitoring System for Power Devices | Masanori Tsukuda, Li Guan, Kazuha Watanabe, Haruyuki Yamaguchi, Kenshi Takao, Ichiro Omura |
the 32nd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD 2020) | 2020 |
13kV UHV-IGBT : Feasibility Study | Atsushi Ito, Ichiro Omura |
the 32nd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD 2020) | 2020 |
Simultaneous Imaging of Strain and Temperature using Single IR Camera | Yoshiki Masudaa, Akihiko Watanabe, Ichiro Omura | 11th International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS2020) | 2019 |
IGBT current filamentation observation by segmented collector sensing under UIS condition | Seiya Matsuura, Masanori Tsukuda and Ichiro Omura |
11th International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS2020) | 2019 |
EMI Imaging System Using a Double-pulse-compose-method for Front-loading of Noise Evaluation |
Kota Matsuo, Masanori Tsukuda, Ichiro Omura, | 11th International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS2020) | 2019 |
Dynamic Current Balancing of Parallel Connected IGBT Devices us-ing PCB Sensor for Integration in Power Modules | Ravi Nath Tripathi, Masanori Tsukuda, Ichiro Omura | 11th International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS2020) | 2019 |
Digital Gate Drive Control Method for Active Voltage Balancing of Series-connected IGBT Devices | Ravi Nath Tripathi, Masanori Tsukuda, Ichiro Omura | 11th International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS2020) | 2019 |
Detecting Three-Phase Power Inverter Output Currents By A Single PCB Current Sensor |
Bat-Otgon Bat-Ochir, Battuvshin Bayarkhuu, Masanori Tsukuda, Bayasgalan Dugarjav, Ichiro Omura |
11th International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS2020) | 2019 |
Numerical study on the suppression of 4H SiC PiN diodes forward bias degradation due to substrate basal plane dislocations | Satoshi Torimi, Yoshiki Obiyama, Masanori Tsukuda, Ichiro Omura | Solid State Electronics vol.166 | 2019 |
A Condition Monitoring Method of DC Link Capacitors Used in a High Power Three Phase PWM Inverter with an Evaluation Circuit | K. Hasegawa, S. Nishizawa, and I. Omura | IEEJ Journal of Industry Applications, Vol. 8, No. 3 | 2019 |
Novel Fully Digital controlled point of load converter based on H bride DC DC converter | T. Oka, S. Nakano, S. Abe, and S. Matsumoto | IEEJ Journal of Industry Applications, Vvol.8 No.5 | 2019 |
Impact of the passive component structure for high efficiency and fast response POL using Power Supply on Chip | K. Kajihara, S. Abe and S. Matsumoto | Journal of the Institute of Industrial Applications Engineers, Vol.8, No.1 | 2019 |
Novel Software Defined Power Supply Utilizing Power Supply on Chip, Power suppl y which outputs the regulated output voltage by only connecting the load | T. Oka, S. Abe, and S. Matsumoto | EPE2019, ECCE Europe | 2019 |
Transformer less floating gate driver for 3D power SoC, M. Nakayama | M. Nakayama, S. Abe and S.Matsumoto | 2019 International 3D Systems Integration Conference (3DIC) | 2019 |
Si (100) GaN/Si (111) low temperature wafer bonding process for 3D power supply on chip | R. Ishito, K. Ono, and S. Matsumoto | IEEE CPMT Symposium Japan 2019 (ICSJ2019) ECR | 2019 |
パワーコンバータに用いられるアルミニウム電解コンデンサの最新技術動向 | 長谷川一徳(九州工業大学), 恩田謙一(日本ケミコン), 向山大索(ルビコン),東根 亮(日立化成) | 電気学会電気学会産業応用部門大会 | 2019 |
ソフトウエア電源の制御技術の研究 | 梶原健志, 岡 俊臣 , 安部征哉 ,松本 聡 | 電子情報通信学会電子通信エネルギー技術研究会 | 2019 |
パワー半導体の予知保全を実現する特性モニタリング技術 | 管 理 渡辺 和葉 附田 正則 大村 一郎 |
電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2019 |
パワー半導体の高耐量化に向けた超高速チップ表面温度分布イメージングシステムの開発 | 池亀 恵市 渡邉 晃彦 大村 一郎 |
電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2019 |
Peak Minimisation based Gate Delay Compensation for Active Current Balancing of Parallel IGBT System | Ravi Nath Tripathi, Masanori Tsukuda, Ichiro Omura | Microelectronics Reliability Vol. 100–101 |
2019 |
Infrared image correlation for thermal stress analysis of power devices |
Akihiko Watanabe, Yoshiki Masuda and Ichiro Omura | Microelectronics Reliability Vol. 100–101 |
2019 |
Development of fast short-circuit protection system for advanced IGBT | M. Ichiki, T. Arimoto, S. Abe, M. Tsukuda, I. Omura | Microelectronics Reliability Vol. 100–101 |
2019 |
Convolutional neural network (CNNs) based image diagnosis for failure analysis of power devices | Akihiko Watanabe, Naoto Hirose, Hyoungseop Kim and Ichiro Omura | Microelectronics Reliability Vol. 100–101 |
2019 |
Calculation of single event burnout failure rate for high voltage devices under satellite orbit without fitting parameters | Sudo, M. Nagamatsu, T. Tsukuda, M. Omura, I. |
Microelectronics Reliability Vol. 100–101 |
2019 |
Output-Current Measurement of a PWM Inverter with a Tiny PCB Rogowski Sensor Integrated into an IGBT Module |
Kazunori Hasegawa, Shun Sho, Mao Ichiki, Masanori Tsukuda, Ichiro Omura, Tohru Kato | The Energy Conversion Congress and Exposition 2019 | 2019 |
Numerical Study of 4H-SiC PiN Diode to Enable Forward Bias Degradation Prediction Considering BPD-TED Conversion Position in the SiC Epitaxial Wafer | Satoshi Torimi, Yoshiki Obiyama, Masanori Tsukuda and Ichiro Omura | 2019 International Conference on Solid State Devices and Materials | 2019 |
Active Voltage Balancing for Series Connected IGBT System using Gate Delay Control (Compensation) | Ravi Nath Tripathi, Kouji Harasaki, Masanori Tsukuda, Ichiro Omura | 2019 International Conference on Solid State Devices and Materials | 2019 |
Mutual inductance influence to switching speed and TDR measurements for separating self- and mutual inductances in the package | H. Iida, K. Hasegawa, I. Omura | Proc. of ISPSD2019 | 2019 |
Analog Basis, Low-Cost Inverter Output Current Sensing with Tiny PCB Coil Implemented inside IPM | Battuvshin Bayarkhuu, Bat-Otgon Bat-Ochir, Kazunori Hasegawa, Masanori Tsukuda, Bayasgalan Dugarjav, Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2019 | 2019 |
Self-Turn-on-Free 5V Gate Driving for 1200V Scaled IGBT | Tsukuda Masanori, Sudo Masaki, Hasegawa Kazunori, Abe Seiya, Saraya Takuya, Takakura Toshihiko, Fukui Munetoshi, Itou Kazuo, Suzuki Shinichi, Takeuchi Kiyoshi, Ninomiya Tamotsu, Hiramoto Toshiro, Omura Ichiro | Proc. of ISPSD2019 | 2019 |
Impact of the semiconductor on hexagonal-BN structure for power-supply on chip applications | Yoshiki Sato, Kota Ono, Masanari Nomura, Satoshi Matsumoto, and Masataka Hasegawa | 2018 International Conference on Solid State Devices and Materials | 2018 |
Transient Response of a Digitally Controlled Power Supply Based on Power-SoC | Toshiomi Oka, Seiya Abe, Satoshi Matsumoto | International Workshop on Power Supply on Chip 2018 | 2018 |
Numerical predictions of a novel 3D stacked power-SoC structure based on hexagonal-BN | Yoshiki Sato, Kota Ono, and Satoshi Matsumoto, Masataka Hasegawa | International Workshop on Power Supply on Chip 2018 | 2018 |
Design consideration of a 3D stacked power supply on chip | Kota Ono, Kengo Hiura, Sathoshi Matsumoto | ECTC2018 | 2018 |
Operating Principle of Current Resonant Converter Using Air Core Transformer for Isolated Power Supply on Chip |
Seiya Abe, Hikaru Kaishakuji and Satoshi Matsumoto | INTERNATIONAL POWER ELECTRONICS CONFERENCE -ECCE ASIA- IPEC- Niigata 2018 | 2018 |
An Evaluation Circuit for DC-Link Capacitors Used in a High-Power Three-Phase Inverter with Condition Monitoring | Kazunori Hasegawa, Ichiro Omura, and Shin-ichi Nishizawa | INTERNATIONAL POWER ELECTRONICS CONFERENCE -ECCE ASIA- IPEC- Niigata 2018 | 2018 |
A Novel Full Digital control H-bridge DC-DC converter for power Supply on Chip applications | Shigeki Nakano, Toshiomi Oka, Seiya Abe, and Satoshi Matsumoto | INTERNATIONAL POWER ELECTRONICS CONFERENCE -ECCE ASIA- IPEC- Niigata 2018 | 2018 |
ダイオード整流器・三相PWMインバータシステムにおける直流リンクコンデンサのモニタリング手法 | 長谷川一徳,大村一郎,西澤伸一 | 電気学会産業応用部門大会 | 2018 |
宇宙環境で用いるパワーデバイスの宇宙線故障率の算出法提案 | 永松拓朗, 須藤雅貴, 大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2018 |
次世代IGBT 用超高速短絡保護システムの開発 | 一木真生, 有元貴昭, 安部征哉, 附田正則, 大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2018 |
内部劣化および熱・電気特性の同時観測による複合型故障解析装置の実証 | 廣吉慎吾, 渡邉晃彦, 大村一郎, 嘉藤徹 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2018 |
大容量PWMインバータの小型化を可能にする新しい出力電流検出システムの開発 | 肖駿, 長谷川一徳, 一木真生, 附田正則, 大村一郎, 嘉藤徹 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2018 |
Design Consideration of Air-Core On-Chip Spiral Coil for Power-SoC | Seiya Abe, Hikaru Kaishakuji, Satoshi Matsumoto | International Workshop on Power Supply on Chip 2018 | 2018 |
Envelop Tracking Based Embedded Current Measurement for Monitoring of IGBT and Power Converter System | Bat-Otgon Bat-Ochir, Battuvshin Bayarkhuu, Kazunori Hasegawa, Masanori Tsukuda, Bayasgalan Dugarjav, Ichiro Omura | Microelectronics Reliability Volume 89-90 | 2018 |
A fully digital feedback control of gate driver for current balancing of parallel connected power devices | R.N. Tripathi, M. Tsukuda, I. Omura | Microelectronics Reliability Volume 89-90 | 2018 |
Bias voltage criteria of gate shielding effect for protecting IGBTs from shoot-through phenomena | M. Tsukuda, S. Abe, K. Hasegawa, T. Ninomiya, I. Omura | Microelectronics Reliability Volume 89-90 | 2018 |
A power cycling degradation inspector of power semiconductor devices | A. Watanabe, I. Omura | Microelectronics Reliability Volume 89-90 | 2018 |
ESR and capacitance monitoring of a dc-link capacitor used in a three-phase PWM inverter with a front-end diode rectifier | K. Hasegawa, S. Nishizawa, I. Omura | Microelectronics Reliability Volume 89-90 | 2018 |
Calorimetric Power-Loss Measurement of a High-Power Film Capacitor with Actual Ripple Current Generated by a PWM Inverter | Kazunori Hasegawa and Ichiro Omura | ECCE2018 (IEEE ENERGY CONVERSION CONGRESS & EXPO) | 2018 |
Current Imbalance Monitoring in SiC-MOSFET under Unclamped Inductive Switching by Tiny PCB Rogowski Coil | Takaaki Arimoto, Masanori Tsukuda, Seiya Matsuura, Ichiro Omura | 14th International Seminar on Power Semiconductors | 2018 |
"Structure-based capacitance modeling and power loss analysis for the latest high-performance slant field-plate trench MOSFET" |
Kenya Kobayashi, Masaki Sudo, Ichiro Omura | Japanese Journal of Applied Physics 57, 04FR14 (2018) pp.04FR14-1_04FR14-8 | 2017 |
DC-bias-voltage dependence of degradation of aluminum electrolytic capacitors | K. Hasegawa, K. Tsuzaki, S. Nishizawa | "Microelectronics Reliability Volume 83" |
2017 |
"Power Loss Analysis of 60 V Trench Field-Plate MOSFETs utilizing Structure Based Capacitance Model for Automotive Application" |
Kenya Kobayashi, Masaki Sudo, Ichiro Omura | CIPS 2018 – 10th International Conference on Integrated Power Electronics Systems | 2017 |
"Current filament monitoring under unclamped inductive switching conditions on real IGBT interconnection" |
M. Tsukuda, T. Arimoto and I. Omura | CIPS 2018 – 10th International Conference on Integrated Power Electronics Systems | 2017 |
スケーリングIGBTが拓くパワーエレクトロニクスの新しいパラダイム | 平本 俊郎 大村 一郎 |
応用物理86(11) | 2017 |
"Current Spike Reduction Technique for High Power Laser Diode Driver with Pulse Current Output" | Seiya Abe , Yuki Oka, Tsuyoshi Ueno | The 12th IEEE International Conference on Power Electronics and Drive Systems (PEDS 2017) | 2017 |
電流分布に基づくパワーモジュールの新しいスクリーニング法の提案 | 附田 正則 , 結城 大介, 朝長 大貴 , 金 亨燮, 大村 一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2017 |
"ダブルパルス試験によるパワーエレクトロニクス機器用 ノイズ計測システムの構築 " |
岩﨑量旺,長谷川一徳,安部征哉,大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2017 |
µ-PCD法によるエピタキシャルウェーハ評価の精度に関する検討 | 真辺 航, 大村 一郎, 附田 正 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2017 |
パワーモジュール内蔵型インバータ出力電流測定システムの開発 | 田畑 勝次. 長谷川 一徳, 一木 真生, 大村 一郎,附田 正則 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2017 |
Solution of Triple Problems in Transformer Windings for Current Resonant Converter with High Power Density and Wide Input Voltage Range | Seiya Abe, Toshiyuki Zaitsu | "EPE'17 ECCE EUROPE" |
2017 |
Modelling of the shoot-through phenomenon introduced by the next generation IGBT in inverter applications | S. Abe, K. Hasegawa, M. Tsukuda, K. Wada, I. Omura, T. Ninomiya | Microelectronics Reliability | 2017 |
Real-time imaging of temperature distribution inside a power device under a power cycling test | A. Watanabe, R. Nagao, I. Omura | Microelectronics Reliability | 2017 |
Clamp type built-in current sensor using PCB in high-voltage power modules | M. Tsukuda, K. Nakashima, S. Tabata, K. Hasegawa, I. Omura | Microelectronics Reliability | 2017 |
Temperature Distribution Imaging inside Power Devices by Real-Time Simulation | A. Watanabe, R. Nagao, I. Omura | 2017 International Conference on Solid State Devices and Materials | 2017 |
Structure Based Compact Model for Output Capacitance of Trench Field-Plate MOSFET to Enable Power Loss Prediction | Kenya Kobayashi, Masaki Sudo, Ichiro Omura | 2017 International Conference on Solid State Devices and Materials | 2017 |
"シリコンウェーハにおける自由キャリアの バルク・表面再結合拡散モデル: I. 厳密解とバルクライフタイム評価" |
金田寛、大村一郎 | 第78回応用物理学会 秋季学術講演会 | 2017 |
"シリコンウェーハにおける自由キャリアの バルク・表面再結合拡散モデル: II.キャリア濃度分布" |
金田寛、大村一郎 | 第78回応用物理学会 秋季学術講演会 | 2017 |
Transformer Design Difficulties of Current Resonant Converter for High Power Density and Wide Input Voltage Range | Toshiyuki Zaitsu, Seiya Abe | IFEEC 2017 - ECCE ASIA | 2017 |
"Formulation of Single Event Burnout Failure Rate for High Voltage Devices in Satellite Electrical Power System" |
Yuji Shiba, Erdenebaatar Dashdondog, Masaki Sudo, Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2017 | 2017 |
"New Power Module Integrating Output Current Measurement Function" | S.Tabata, K.Hasegawa, M.Tsukuda, I.Omura | Proc. of ISPSD2017 | 2017 |
"Current Distribution Based Power Module Screening by New Normal/Abnormal Classification Method with Image Processing" | Masanori Tsukuda, Daisuke Yuki, Hiroki Tomonaga, Hyoungseop Kim, Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2017 | 2017 |
An Evaluation Circuit for DC-Link Capacitors used in a Single-Phase PWM Inverter | Kazunori Hasegawa, Ichiro Omura, Shin-ichi Nishizawa, |
PCIM Europe2017 | 2017 |
パワーモジュール近未来 | 大村一郎 | "Calsonic Kansei technical review CKテクニカルレビュー" |
2017 |
"Smart Power Devices and ICs Using GaAs and Wide and Extreme Bandgap Semiconductors" | T. Paul Chow, Ichiro Omura, Masataka Higashiwaki, Hiroshi Kawarada, and Vipindas Pala, | IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES | 2017 |
"A New Output Current Measurement Method with Tiny PCB Sensors Capable of Being Embedded in an IGBT Module," | K. Hasegawa, S. Takahara, S. Tabata, M. Tsukuda, and I. Omura | IEEE Trans. Power Electron | 2017 |
"Temperature rise measurement for power-loss comparison of an aluminum electrolytic capacitor between sinusoidal and square-wave current injections" | K. Hasegawa,K. Kozuma, K. Tsuzaki, I. Omura, S. Nishizawa, | Microelectronics Reliability | 2016 |
"Micro PCB Rogowski coil for current monitoring and protection of high voltage power modules" | Masanori Tsukuda, Masahiro Koga, Kenta Nakashima, Ichiro Omura | Microelectronics Reliability | 2016 |
"Failure rate calculation method for high power devices in space applications at low earth orbit" | Erdenebaatar Dashdondog, Shohei Harada, Yuji Shiba, Ichiro Omura | Microelectronics Reliability | 2016 |
"Design and Analysis of a New Evaluation Circuit for Capacitors Used in a High-Power Three-Phase Inverter" | K. Hasegawa, I. Omura, S. Nishizawa | IEEE Transactions on Industrial Electronics | 2016 |
"High-performance vertical Si PiN diode by hole remaining mechanism" | Masanori Tsukuda , Akiyoshi Baba, Yuji Shiba, Ichiro Omur | Solid-State Electronics | 2016 |
"Mutual Inductance Measurement for Power Device Package Using Time Domain Reflectometry" | Kazunori Hasegawa, Keiji Wada, Ichiro Omura | ECCE 2016 | 2016 |
「平行デュアルレーザビーム法による自由キャリアの寿命評価:不純物酸素析出による寿命劣化の検出」 | 金田寛, 大村一郎 | 第77回応用物理学会秋季学術講演会 | 2016 |
「平行デュアルレーザビーム法による自由キャリアのバルク寿命評価:Fe故意汚染による寿命劣化の検出」 | 金田寛, 大村一郎 | 第77回応用物理学会秋季学術講演会 | 2016 |
「窒化ガリウム(GaN)FETを使用したワイヤレス給電用E級送信機」 | 市原文夫, 大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2016 |
「平行デュアルレーザビーム法によるシリコンウェーハのバルクキャリア寿命評価技術」 | 金田寛, 大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2016 |
「平行デュアルレーザビーム法による自由キャリアのバルク寿命評価:酸化膜形成による表面パッシベーション効果の評価」 | 金田寛, 米澤英晃, 大村一郎 | 第64回応用物理学会春季学術講演会 | 2016 |
「2026年への想像力」 | 大村一郎 | 三菱電機技報 2016年5月号 巻頭言 | 2016 |
“IGBT Avalanche Current Filamentaion Ratio: Precise Simulations on Mesh and Structure Effect” | Yuji Shiba, Masanori Tsukuda and Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2016 | 2016 |
“Novel 600 V Low Reverse Recovery Loss Vertical PiN Diode with Hole Pockets by Bosch Deep Trench” | Masanori Tsukuda, Akiyoshi Baba, Yuji Shiba, Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2016 | 2016 |
“16-channel micro magnetic flux sensor array for IGBT current distribution measurement” | H. Tomonaga, M. Tsukuda, S. Okoda, R. Noda, K. Tashiro, I. Omura, | Microelectronics Reliability 55 | 2015 |
“High-throughput and full automatic DBC-module screening tester for high power IGBT” | M. Tsukuda, H. Tomonaga, S. Okoda, R. Noda, K. Tashiro, I. Omura | Microelectronics Reliability 55 | 2015 |
“Failure analysis of power devices based on real-time monitoring” | A. Watanabe, M. Tsukuda and I. Omura | Microelectronics Reliability 55 | 2015 |
“New Measurement Base De-embedded CPU Load Model for Power Delivery Network Design” | Motochika Okano, Koji Watanabe, Masamichi Naitoh, and Ichiro Omura | The 9th International Conference on Power Electronics – ECCE Asia (ICPE 2015-ECCE Asia) | 2015 |
“60 GHz Wireless Signal Transmitting Gate Driver for IGBT” | Kenichi Yamamoto, Fumio Ichihara, Kazunori Hasegawa, Masanori Tsukuda, and Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2015 | 2015 |
“Application-specific micro Rogowski coil for power modules -Design tool, novel coil pattern and demonstration-” | M. Koga, M. Tsukuda, K. Nakashima, I. Omura | International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS 2016) | 2015 |
“Optimal double sided gate control of IGBT for lower turn-off loss and surge voltage suppression” | S. Harada, M. Tsukuda, I. Omura | International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS 2016) | 2015 |
“Magnetic flux signal simulation with 16-channel sensor array to specify accurate IGBT current distribution” | M. Tsukuda, K. Matsuo, H. tomonaga, S. Okoda, R. Noda, K. Tashiro and I. Omura | International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS 2016) | 2015 |
“A New Evaluation Circuit with a Low-Voltage Inverter Intended for Capacitors Used in a High-Power Three-Phase Inverter” | K. Hasegawa, I. Omura, and S. Nishizawa | Applied Power Electronics Conference & Exposition (APEC2016) | 2015 |
「三相インバータ用直流リンクコンデンサに適した評価回路」 | 長谷川一徳、大村一郎、西澤伸一 | 電気学会産業応用部門大会 | 2015 |
「IGBTダブルゲート構造の提案とアクティブ・ホール注入制御:数値解析による低損失化の原理確認」 | 原田翔平、大村一郎、附田正則 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2015 |
「IGBTモジュール用超小型電流センサの開発:高精度センサ構造の提案と専用設計環境の構築」 | 古賀仁大、大村一郎、附田正則 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2015 |
「磁束センサアレイを用いたパワーモジュール内電流の可視化システムの開発」 | 朝長大貴、大村一郎、附田正則、大胡田清一、野田龍三、田代勝治 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会 | 2015 |
「パワーモジュール用PCB超小型電流センサ:専用設計ツールの開発とセンサ試作実証」 | 古賀仁大、中島健太、大村一郎、附田正則 | 電気学会半導体電力変換/モータドライブ合同研究会 | 2015 |
「三相インバータ用直流リンクコンデンサに適した評価回路の実験検証」 | 長谷川一徳、大村一郎、西澤伸一 | 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換合同研究会 | 2015 |
「パワーモジュール内蔵型出力電流計測手法の新提案」 | 高原賢、長谷川一徳、附田正則、大村一郎 | 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換技術合同研究会 | 2015 |
「パワーモジュールのインテリジェント化;出力電流検出機能の開発」 | 田畑勝次、高原賢、 長谷川一徳、大村一郎 | 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換技術合同研究会 | 2015 |
「高耐圧パワー半導体モジュール用超小型PCB電流センサの開発:ノイズ低減構造の提案と実証」 | 中島健太、古賀仁大、大村一郎、附田正則 | 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換技術合同研究会 | 2015 |
「リアルタイム内部温度分布可視化システムの構築」 | 長尾亮輔、渡邉晃彦、大村一郎 | 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換技術合同研究会 | 2015 |
「OCVD法によるキャリアライフタイム測定の精度解析」 「OCVD法での接合容量の効果:電流成分を含んだモデル式の構築」 |
真辺航、原田翔平、大村一郎 | 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換技術合同研究会 | 2015 |
「近傍空間磁界可視化システムの実現」 | 松本拓朗、鈴木秀斗、市原文夫、大村一郎 | 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換技術合同研究会 | 2015 |
「近傍空間磁界可視化システムの計測精度の検証」 | 鈴木秀斗、松本拓朗、岩崎量旺、古賀仁大、大村一郎 | 電気学会電力技術/電力系統技術/半導体電力変換技術合同研究会 | 2015 |
「平行デュアルレーザビーム法による自由キャリアのバルク寿命評価:赤外レーザビーム屈折の理論」 | 金田寛、大村一郎 | 第63回応用物理学会春季学術講演会 | 2015 |
「平行デュアルレーザビーム法による自由キャリアのバルク寿命評価:装置構成と平行デュアルビームの実現」 | 金田寛、大村一郎 | 第63回応用物理学会春季学術講演会 | 2015 |
“Short-circuit protection for an IGBT with detecting the gate voltage and gate charge” | K. Hasegawa, K. Yamamoto, H. Yoshida, K. Hamada, M. Tsukuda, I. Omura | Microelectronics Reliability 54 | 2014 |
“Structure oriented compact model for advanced trench IGBTs without fitting parameters for extreme condition: part II” | J. Takaishi, S. Harada, M. Tsukuda, I. Omura | Microelectronics Reliability 54 | 2014 |
“Ultrafast lateral 600 V silicon SOI PiN diode with geometric traps for preventing waveform oscillation” | Masanori Tsukuda, Hironori Imaki, Ichiro Omura | Solid State Electronics 104 (2015) | 2014 |
“Rea-time failure monitoring system for high power IGBT under acceleration test up to 500A stress” | Akihiko Watanabe, Masanori Tsukuda and Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2014 | 2014 |
“Ultra-fast Lateral 600 V Silicon PiN Diode Superior to SiC-SBD” | Masanori Tsukuda, Hironori Imaki and Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2014 | 2014 |
“Design for EMI suppression” during reverse recovery by 600V lateral SOI PiN diode with traps” | Masanori Tsukuda, Hironori Imaki and Ichiro Omura | The 2014 International Conference Solid State Devices and Materials | 2014 |
“High Speed Real-time Temperature Monitoring System inside Power Devices Package Using Infrared Radiation” | N. Hirata, A. Watanabe and I. Omura | The 2014 International Conference Solid State Devices and Materials | 2014 |
「SOI超高速横型シリコンダイオード」 | 今城寛紀、附田正則、大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 | 2014 |
「IGBTモジュール高信頼化に向けたチップ間電流不均衡計測技術の開発」 | 山口治之、附田正則、渡邉晃彦、大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 | 2014 |
「60GHz無線モジュールを用いたワイヤレス・ゲートドライブ回路」 | 山本研一、市原文夫、長谷川一徳、大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 | 2014 |
“IGBT chip current imaging system by scanning local magnetic field” | Hiroaki Shiratsuchi, Kohei Matsushita, Ichiro Omura | Microelectronics Reliability 53 | 2013 |
“Real time degradation monitoring system for high power IGBT module under power cycling test” | A. Watanabe, M. Tsukuda and I. Omura | Microelectronics Reliability 53 | 2013 |
“High Speed Turn-on Gate Driving for 4.5kV IEGT without Increase in PiN Diode Recovery Current” | Yamato Miki, Makoto Mukunoki, Takashi Matsuyoshi, Masanori Tsukuda, and Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2013 | 2013 |
“Sub-micron Junction Termination for 1200V Class Devices toward CMOS Process Compatibility” | Kota Seto, Hironori Imaki, Junpei Takaishi, Masahiro Tanaka, Masanori Tsukuda and Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2013 | 2013 |
“Real Time Monitoring System for Internal Process to Failure of High Power IGBT” | Akihiko Watanabe, Masanori Tsukuda and Ichiro Omura | The 2013 International Conference on Solid State Devices and Materials | 2013 |
“High-throughput DBC-assembled IGBT screening for power module” | Masanori Tsukuda, Seiichi Okoda, Ryuzo Noda, Katsuji Tashiro and Ichiro Omura | International Conference on Integrated Power Electronics System | 2013 |
“Internal degradation monitoring of power devices during power cycling test” | Akihiko Watanabe, Masahiro Tsukuda and Ichiro Omura | International Conference on Integrated Power Electronics System | 2013 |
「マイクロフィルムセンサを用いた電流集中現象の画像化」 | 松下、幸平、白土、博章、大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 | 2013 |
「リアルタイムモニタリング機能を持ったゲート駆動システムの構築」 | 濱田航太、吉田秀太郎、大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 | 2013 |
「IGBTのゲート電化・ゲート電圧検出を用いた負荷短絡保護」 | 吉田秀太郎、濱田航太、長谷川一徳 大村一郎 | 電気学会半導体電力変換/モータドライブ合同研究 | 2013 |
“Real-time failure imaging system under power stress for power semiconductors using Scanning Acoustics Tomography(SAT)” | Akihiko Watanabe, Ichiro Omura | Microelectronics Reliability 52 | 2012 |
“IGBT Scaling Principle Toward CMOS Compatible Wafer Processes” | Masahiro Tanaka, Ichiro Omura | Solid-State Electronics | 2012 |
“Role of Simulation Technology for the Progress in Power Devices and Their Applications” | Hiromichi Ohashi, Ichiro Omura | IEEE TRANSACTION ON ELECTRON DEVICES | 2012 |
“Universal Trench Edge Termination Design” | Kota Seto, Ryu Kamibaba, Masanori Tsukuda and Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2012 | 2012 |
“Scaling Rule for Very Shallow Trench IGBT toward CMOS Process Compatibility” | Masahiro Tanaka and Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2012 | 2012 |
“Scattering Parameter Approach to Power MOSFET Design for EMI” | Masanori Tsukuda, Keiichiro Kawakami and Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2012 | 2012 |
“Bonding Wire Current Measurement with Tiny Film Current Sensors” | Hidetoshi Hirai, Yuya Kasho, Masanori Tsukuda and Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2012 | 2012 |
“Real-time Failure Imaging of Power Semiconductors under Power Stress using Scanning Acoustics Tomography” | Akihiko Watanabe, Ichiro Omura | The 2012 International Conference on Solid State Devices and Materials | 2012 |
「高耐圧パワーデバイス用スケールダウン・テストヘッドの開発」 | 松吉峻、附田正則、平井秀敏、大村一郎 | 電子情報通信学会、IEICE Technical Report | 2012 |
“Structure oriented compact model for advanced trench IGBTs without fitting parameters for extreme condition Part I” | M. Tanaka, and I. Omura | Microelectronics Reliability 51 | 2011 |
“Tiny-scale “stealth” current sensor to probe power semiconductor device failure” | Yuya Kasho, Hidetoshi Hirai, Masanori Tsukuda, Ichiro Omura | Microelectronics Reliability 51 | 2011 |
“Ultra Low Loss Trench Gate PCI-PiN Diode with VF<350mV” | Motohiro Tsuda, Yasuaki Matsumoto, Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2011 | 2011 |
“Full digital short circuit protection for advanced IGBTs” | Takuya Tanimura, Kazufumi Yuasa, Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2011 | 2011 |
「PiNダイオードの逆回復時高周波振動の検討」 | 川神圭一朗、附田正則、高濱健一、大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 | 2011 |
「フルデジタル回路によるIGBTの高速短絡保護」 | 谷村拓哉、湯浅一史、大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 | 2011 |
「InAs赤外線センサを用いたパワー半導体チップ用高速温度測定技術についての検討」 | 藤本宏海、中道聡、大村一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 | 2011 |
“Numerical study on very high speed silicon PiN diode possibility for power ICs in comparison with SiC-SBD” | Kenichi Takahama and Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2010 | 2010 |
“Challenge to the Barrier of Conduction Loss in PiN Diode toward VF<300 mV with Pulsed Carrier Injection Concept” | Yasuaki Matumoto, Kenichi Takahama, and Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2010 | 2010 |
“Design of Trench Termination for High Voltage Power Device | Ryu Kamibaba Kenichi Takahama and Ichiro Omura” | Proc. of ISPSD2010 | 2010 |
“Ultra High Speed Short Circuit Protection for IGBT with Gate Charge Sensing” | Kazufumi Yuasa, Soh Nakamichi and Ichiro Omura | Proc. of ISPSD2010 | 2010 |
「InAs赤外線センサを用いたパワー半導体チップ用高速温度測定技術についての検討」 | 中道聡、藤本宏海、大村 一郎 | 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究 | 2010 |